Die Röntgenfluoreszenz-Analyse (X-Ray) nach DIN ISO 3497 ermöglicht eine berührungslose und somit zerstörungsfreie Messung metallischer Schichten auf polymeren Werkstoffen oder auf metallischem Grundmaterial.
Mit dem Verfahren lassen sich auch sehr kleine Strukturen präzise und mit sehr hoher Wiederholungsgenauigkeit messen. Auch die Dicke von mehreren übereinander liegenden Schichten kann mit dieser Messmethode zuverlässig bestimmt werden. Wie funktioniert die Röntgenfluoreszenz-Analyse? Beim Röntgenfluoreszenz-Verfahren werden die Atome in dem zu prüfenden Werkstück durch primäre Röntgenstrahlung angeregt. Dadurch werden Elektronen aus den inneren Schalen der Atome herausgelöst. Durch diesen Prozess entstehen Lücken, die dann durch Elektronen aus den weiter außenliegenden Atomschalen aufgefüllt werden. Beim Übergang der Atome entsteht eine charakteristische Fluoreszenzstrahlung. Diese wird von einem speziellen Detektor erfasst und dient schließlich dazu, die exakte Dicke der applizierten Schicht zu bestimmen.